• <bdo id="osoee"></bdo>
  • <legend id="osoee"></legend>
    <legend id="osoee"><input id="osoee"></input></legend>
    <legend id="osoee"><sup id="osoee"></sup></legend>
  • <tr id="osoee"><input id="osoee"></input></tr>
    <legend id="osoee"></legend><legend id="osoee"><input id="osoee"></input></legend>
    产品展示
    PRODUCT DISPLAY
    产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > 日本京都 > 其他热分析仪器 >准自动膜厚测量系统
    准自动膜厚测量系统

    产品时间:2025-05-14

    访问次数:968

    简要描述:

    日本filmetrics对准自动膜厚测量系统F6
    F50机型,带缺口检测、自动基线功能和互锁机制
    自动测量对准、基线和薄膜厚度映射

    在线咨询 点击收藏

    日本filmetrics对准自动膜厚测量系统F60

    1

    F60自动测绘膜厚测量系统是F50的机型,具有缺口检测、自动基线功能和互锁机制。
    只需将样品放在载物台上,然后单击测量按钮即可自动执行对齐、基线和膜厚映射。

     

    主要特点

     

    • F50机型,带缺口检测、自动基线功能和互锁机制

    • 自动测量对准、基线和薄膜厚度映射

    主要应用

    半导体
    抗蚀剂、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等

    产品阵容

    模型F60-tF60-t-UVF60-t-近红外F60-t-EXR测量波长范围膜厚测量范围




    380 – 1050nm
    190 – 1100nm950 – 1700nm380 – 1700nm
    20nm – 70μm5nm – 40μm100nm – 250μm20nm – 250μm
    ± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
    2纳米1纳米3纳米2纳米

    测量示例

    可以测量硅晶片上的氧化膜、抗蚀剂等。只需设置样本,对齐、参考等将*自动完成。


    留言框

    • 产品:

    • 您的单位:

    • 您的姓名:

    • 联系电话:

    • 常用邮箱:

    • 省份:

    • 详细地址:

    • 补充说明:

    • 验证码:

      请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
    联系方式
    • 电话

    在线客服
    国产精品青草久久福利不卡 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>